Analytical Scanning Electron Microscope With Focused Ion Beam – 3Rd Announcement

  Address - Czech Republic

  Contact details - 565656565

  Tender notice no. - 76454545

  GT Ref Id - 101291449

  Document Type - Tender Notices

Description - Description: The subject of the contract is the delivery, installation and training for work (including application training) on ​​a FIB-SEM microscope with an ion beam equipped with EDS and in-situ indentation analytical methods.local title:: An alytický skenovací elektronový mikroskop s fokusovaným iontovým svazkem – 3. vyhlášeníContract Duration: : 3 MONTHContract Type: : Supplylocal description: : Předmětem zakázky je dodání, instalace a zaškolení pro práci (včetně aplikačního školení) na FIB-SEM mikroskopu s iontovým svazkem vybaveným analytickými metodami EDS a in-situ indentací. category: supplies lot_details: 1: Analytical scanning electron microscope w

Gt Ref Id - 101291449

Deadline - Feb 18, 2025